博仕检测-透射电镜tem测试,FIB切片测试

博仕检测是一家由留美博士创建的实验室，提供半导体芯片失效分析、电子元器件失效原因分析等检测服务，设备先进，服务产业广泛，已服务客户1000多家，行业认可度高。

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